testcase
基本解釋
- 測(cè)試用例
英漢例句
- A new TestCase that better supports tests in multiple threads.
一種更好支持多線(xiàn)程的新測(cè)試用例。 - Aimed at branch coverage, bit-function coverage and statement-observability coverage measures, a generation method of high level testcase is represented using CFG/DFG model.
本文基于控制流圖/數(shù)據(jù)流圖兩層次模型,以分支覆蓋、位功能覆蓋以及語(yǔ)句可觀覆蓋為目標(biāo),給出一高層次測(cè)試用例生成算法,即通過(guò)兩個(gè)子過(guò)程的交替進(jìn)行生成電路的測(cè)試用例塊。 并在此基礎(chǔ)上,采用一定填充策略填充未知位,生成滿(mǎn)足覆蓋需求的、一定長(zhǎng)度的測(cè)試序列,實(shí)現(xiàn)測(cè)試生成。 - The testcase reference will allow the translation tester to validate that the text is not truncated, because the choice of letters affects the final text width in proportional fonts.
測(cè)試案例引用將允許翻譯測(cè)試員驗(yàn)證文本未被截?cái)?因?yàn)樽帜傅倪x擇會(huì)影響相應(yīng)字體下最終的文本寬度。 - public class Test extends TestCase { protected void setUp() throws Exception { } protected void tearDown() throws Exception { super.tearDown();
} public void testFunctionName(){ //把你要測(cè)試類(lèi)的函數(shù)的參數(shù)傳到函數(shù)中。//加斷言看是否與你想要的結(jié)果一致。 - Keywords Integrated Circuits （ICs）;Automatic Test Pattern Generation （ATPG）;Register Transfer Level （RTL）;Testcase;
集成電路;自動(dòng)測(cè)試生成;寄存器傳輸級(jí);測(cè)試用例;